設備簡介
對于樣品的比表面積及孔徑的測試，由于多孔材料自身吸附性、保存和使用環境的影響，樣品在長期或短時間暴露在空氣中都會出現被雜質氣體、水分等物質的污染，從而影響比表面積及孔徑的測試結果。
為解決樣品自身吸附性能和使用存放環境帶來的問題，MD-200全自動樣品前處理器提供了*的解決辦法，儀器通過真空抽離，升溫脫氣、脫水，注氣保護等方式，使樣品達到測試要求。
產品優勢
與集成在比表面積及孔徑設備上的樣品脫氣站相比，獨立的MD-200全自動樣品前處理器具備如下特點：
① 具備獨立的真空系統和氣路系統
② 漏氣率低、氣路污染問題容易處理
③ 全自動控制
技術參數
1.控溫范圍：室溫～450℃
2.控溫精度：0.01℃
3.溫度控制系統：日本島電
4.處理樣品數量：3個（ 可擴展至6個）
5.真空度：7X10-2Pa
6.氣體保護系統：氮氣
